The article "A non-blocking non-degrading multiple defects link testing method for 3D-Networks-on-Chip" by Khanh N. Dang, Michael Conrad Meyer, Akram Ben Ahmed, and Xuan-Tu Tran has been accepted for publication at IEEE Access.
This is to notify you that the following article, "A non-blocking non-degrading multiple defect link test method for 3D-Networks-on-Chip," is available under the "Early Access" area on IEEE Xplore, where the PDF of your author-submitted, peer-reviewed, and accepted manuscript is available for download. This article has been accepted for publication in a future issue of this journal, but has not been edited and content may change prior to final publication. It may be cited as an article in a future issue by its Digital Object Identifier. To view this article, please visit the journal homepage (listed below) on IEEE Xplore and select the ?Early Access? tab.
This paper appears in: IEEE Access
On page(s): 1-19
Print ISSN: 2169-3536
Online ISSN: 2169-3536
Digital Object Identifier: 10.1109/ACCESS.2020.2982836
Ngày 10-11/1/2020, Phòng thí nghiệm trọng điểm Hệ thống tích hợp thông minh (SISLAB) đã tổ chức Hội nghị tổng kết hoạt động năm 2019, xây dựng kế hoạch hoạt động năm 2020 và hoạt động dã ngoại cuối năm (Year-End Party) tại An Lạc Ecofarm Resort, huyện Kim Bôi, tỉnh Hòa Bình.
Một vài con số tổng kết hoạt động năm 2019:
Số lượng bài báo tạp chí: 5
Số lượng bài báo hội nghị khoa học: 12
Số lượng Keynotes/Invited talks: 3
Số lượng patents: 1 được cấp/ 1 hồ sơ chấp nhận hợp lệ
Số lượng giải thưởng KHCN quốc tế: 3 (01 Giải Nhất IEEE SEACAS Hackathon tại Malaysia; 01 Outstanding Performance tại ARC Design Contest tại Đài Loan; 01 Spirit Fighting Award tại Nhật Bản)
Số lượng lượt xuất ngoại (hội nghị, trao đổi nghiên cứu): > 25 lượt
Chụp ảnh lưu niệm sau Hội nghị tổng kết hoạt động năm 2019 và xây dựng kế hoạch năm 2020.
English
Tiếng Việt